薄膜矩阵式键盘之测试方法

摘要

一种薄膜矩阵式键盘之测试方法。首先提供一薄膜矩阵式键盘，薄膜矩阵式键盘上具有对应于按键位置的复数待测点。其次，提供一点压测试机，此一点压测试机可如知触控面板测试装置中的结构，具有一工作平台以及一测试笔。将薄膜矩阵式键盘放置于工作平台后，将具有一特定厚度且不导电之薄膜覆盖于薄膜矩阵式键盘，如此即可将测试笔点压于薄膜上，并在薄膜上沿待测点所连接而构成之一测试路径行进，测量薄膜矩阵式键盘，而得到薄膜矩阵式键盘之测试结果。