阵列基板之检查方法及阵列基板之制造方法

摘要

本发明系提供一种阵列基板之检查方法，检查阵列基板时，检查设置像素电极前之阵列基板有无缺陷(步骤S3)，检查设置像素电极后之阵列基板有无缺陷(步骤S7)。