发明名称 Anordnung und Verfahren zur Prüfung der Crimpqualität von Kontakten
摘要
申请公布号 DE60018233(T2) 申请公布日期 2006.01.12
申请号 DE20006018233T 申请日期 2000.07.21
申请人 YAZAKI CORP., TOKIO/TOKYO 发明人 ISHIBASHI, LTD.;TOMIKAWA, LTD.
分类号 H01R43/048 主分类号 H01R43/048
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利