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发明名称 Methode zur Prüfung einer gekrümmten Oberfläche und Vorrichtung zur Prüfung einer Leiterplatte
摘要
申请公布号 DE60202831(T2) 申请公布日期 2006.01.12
申请号 DE20026002831T 申请日期 2002.11.22
申请人 OMRON CORP., KYOTO 发明人 OSHIUMI, AKIRA;FUJII, YOSHIKI;FUJITA, YUJIN
分类号 G01N21/27;G01N21/88;G01N21/956;G01R31/309 主分类号 G01N21/27
代理机构 代理人
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