发明名称 溅镀成膜方法
摘要 提供一种溅镀成膜方法,其系利用具有复数件磁控管溅镀机构的基板输送式连续溅镀成膜装置,使基板输送方向的磁铁的往返运动之移动速度和基板输送速度大致为相等而进行成膜时,可避免膜质变化且提高薄膜厚度的均匀性。利用具有复数件磁控管溅镀机构11~18的基板输送式连续溅镀成膜装置,在使基板依序与二件磁控管溅镀机构之各件呈对置的同时依序进行溅镀成膜之方法,在二件磁控管溅镀机构之间使磁铁56的往返运动之相位呈相移,且使磁控管溅镀机构的磁铁56的往返运动的正方向移动速度和反方向移动速度不相同,以满足预定条件。
申请公布号 TWI247044 申请公布日期 2006.01.11
申请号 TW090126414 申请日期 2001.10.25
申请人 安内华股份有限公司 发明人 佐佐木雅夫
分类号 C23C14/35 主分类号 C23C14/35
代理机构 代理人 赖经臣 台北市松山区南京东路3段346号1112室;宿希成 台北市松山区南京东路3段346号1112室
主权项 1.一种溅镀成膜方法,其针对至少二件磁控管溅镀 机构呈并排地布置于成膜室内,而上述磁控管溅镀 机构具有呈往基板输送方向往返运动之磁铁,并在 使基板依序与上述至少二件的磁控管溅镀机构之 各件呈对置的同时且将其往上述基板输送方向输 送,再于该基板输送当中利用上述至少二件磁控管 溅镀机构且其呈对置状态时对于上述基板依序进 行溅镀成膜,其特征为: 利用上述磁控管溅镀机构所致的上述磁铁的往返 运动,在上述至少二件磁控管溅镀机构之间使上述 磁铁往返运动的相位呈相移,且使正方向的移动速 度和反方向的移动速度不相同。 2.如申请专利范围第1项之溅镀成膜方法,其中在上 述磁控管溅镀机构的数量为二件之情况之下,并在 上述二件磁控管溅镀机构之间调整上述磁铁往返 运动的相位,以使上述基板上所作的各成膜时产生 180的相移,且利用上述二件磁控管溅镀机构的各 件所作且对于基板的成膜时,调整上述磁铁的正方 向移动速度和反方向移动速度,以在上述基板输送 方向的薄膜厚度分布方面可使较厚区域的长度和 较薄区域的长度均为相等。 3.如申请专利范围第2项之溅镀成膜方法,其中假设 上述基板的输送速度为Vt、上述磁铁的一次往返 时间为T、上述基板输送方向的磁铁移动幅度为2L 时,上述正方向的移动速度Vf为由Vf=1/(T/(4L)+1/Vt)而 获得,而上述反方向的移动速度Vr则为由Vr=1/(T/(4L)- 1/Vt)而获得。 图式简单说明: 图1为显示关于本发明的实施形态之溅镀成膜方法 所实施的溅镀成膜装置之代表性的实施形态,且为 基板输送式连续溅镀成膜装置之水平剖面图。 图2为以放大显示将关于本发明的实施形态之基板 输送式连续溅镀成膜装置中所包含的复数件磁控 管溅镀机构的某一件之水平剖面图。 图3为图2所示的磁控管溅镀机构所包含的磁铁移 动机构之平面图。 图4(A)、(B)为显示利用已使磁铁往返运动的相位呈 相移的第一和第二的二件磁控管溅镀机构的各件 所作成膜且在基板上的基板输送方向的薄膜厚度 分布之图式。 图5为显示利用二件磁控管溅镀机构所作成膜且在 基板上的基板输送方向的薄膜厚度分布之图式。 图6(A)-(C)为显示为了说明产生问题的磁铁动作例 而对于基板的磁铁动态之图式。 图7为显示基于图6所示的磁铁动作例且在基板上 的磁铁的相对速度之图式。 图8为显示基于图6所示的磁铁动作例且利用二件 磁控管溅镀机构的各件所作而在基板上的磁铁的 相对速度之图式。 图9(A)-(C)为显示为了说明关于本实施形态的较佳 的磁铁动作例而对于基板的磁铁动态之图式。 图10为显示基于图9所示的磁铁动作例且在基板上 的磁铁的相对速度之图式。 图11为显示基于图9所示的磁铁动作例且利用二件 磁控管溅镀机构的各件所作而在基板上的磁铁的 相对速度之图式。 图12为基于本发明的实施例1之基板输送方向的薄 膜厚度分布之特性图。
地址 日本
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