| 主权项 |
1.一种用以估计一解调器之频率偏移量的装置,包 括: 一相位增値取出电路,用以将一输入符号与前次之 上述输入符号之共轭値相乘,以产生一相量; 一自适应判断电路,用以应一总和与上述相量之反 应来去极化上述相量,以产生一去杂讯相量;以及 一加总电路,用以产生复数去杂讯相量之上述总和 来估计频率偏移量。 2.如申请专利范围第1项所述之装置,其中上述自适 应判断电路包括: 一决策电路,用以应上述相量与由上述加总电路所 导出之前次之上述总和之内积之反应以产生一去 杂讯符号;以及 一乘法器,用以将上述相量与上述去杂讯符号相乘 ,以产生上述去杂讯相量。 3.如申请专利范围第2项所述之装置,其中,当上述 相量之极性与前次之上述总和之极性相反时,上述 去杂讯符号为正,当上述相量之极性与前次之上述 总和之极性相同时,上述去杂讯符号为负。 4.如申请专利范围第1项所述之装置,其中上述相位 增値取出电路包括: 一延迟电路,用以储存前次之上述输入符号; 一共轭电路,用以产生前次之上述输入符号之共轭 値;以及 一乘法器,用以将上述输入符号与前次之上述输入 符号之共轭値相乘,以产生上述相量。 5.如申请专利范围第1项所述之装置,更包括一参数 电路,用以取出由上述加总电路输出之估计之相位 偏移量。 6.一种用以估计一解调器之频率偏移量的装置,包 括: 一相位增値取出电路,用以将一输入符号与前次之 上述输入符号之共轭値相乘,以产生一相量; 一自适应判断电路,用以将上述相量与一去杂讯符 号相乘,以产生一去杂讯相量,其中,上述去杂讯符 号由前次之一总和与上述相量之内积来决定;以及 一加总电路,用以产生复数去杂讯相量之上述总和 来估计频率偏移量。 7.如申请专利范围第6项所述之装置,其中上述自适 应判断电路包括: 一决策电路,用以应上述相量与由上述加总电路所 导出之前次之上述总和之内积之反应以产生上述 去杂讯符号;以及 一乘法器,用以将上述相量与上述去杂讯符号相乘 ,以产生上述去杂讯相量。 8.如申请专利范围第7项所述之装置,其中,当上述 相量与前次之上述总和之内积为正时,上述去杂讯 符号为止,当上述相量与前次之上述总和之内积为 负时,上述去杂讯符号为负。 9.如申请专利范围第6项所述之装置,其中上述相位 增値取出电路包括: 一延迟电路,用以储存前次之上述输入符号; 一共轭电路,用以产生前次之上述输入符号之共轭 値;以及 一乘法器,用以将上述输入符号与前次之上述输入 符号之共轭値相乘,以产生上述相量。 10.如申请专利范围第6项所述之装置,更包括一参 数电路,用以取出由上述加总电路输出之估计之相 位偏移量。 11.一种估计一解调器之相位偏移量方法,包括: 将一输入符号与前次之输入符号之共轭値相乘,以 产生一相量。 根据由目前之上述输入符号前面之复数输入符号 导出之复数去杂讯相量之前次之一总和,来去极化 上述相量,以产生一去杂讯相量;以及 应与上述输入符号及前次之上述总和有关之上述 复数去杂讯相量之反应,产生目前之上述总和,以 估计频率偏移量。 12.如申请专利范围第11项所述之方法,其中,上述产 生上述去杂讯相量之步骤包括: 根据上述相量与前次之上述总和以产生一去杂讯 符号;以及 将上述相量与上述去杂讯符号相乘,以产生上述去 杂讯相量。 13.如申请专利范围第12项所述之方法,其中,当上述 相量与前次之上述总和之内积为正时,上述去杂讯 符号为正,当上述相量与前次之上述总和之内积为 负时,上述去杂讯符号为负。 14.如申请专利范围第11项所述之方法,其中,上述产 生上述相量之步骤包括: 产生前次之上述输入符号之共轭値;以及 将上述输入符号与前次之上述输入符号之共轭値 相乘,以产生上述相量。 15.如申请专利范围第11项所述之方法更包括一步 骤,应目前之上述总和之反应,用以取出估计之相 位偏移量。 图式简单说明: 第1图表示习知技术中解调器内一装置之区块示意 图,其中此装置根据DBPSK调变方法,用以估计输入符 号之相位偏移量。 第2图表示本发明实施例中DBPSK解调器内一装置之 区块示意图,其中此装置自适应地执行边界决策。 第3图表示决策区域图。 |
