发明名称 两端存储信息的双位闪存单元及其读取方法
摘要 本发明提供了一种两端存储信息的双位闪存单元的读取方法,属于非挥发性半导体存储器技术领域。与传统的双位闪存读取方法相比,本发明通过衬底和位线的电压组合,在存储单元的沟道内形成足够宽的耗尽层,实现了能够有效读取双位闪存单元中任何一位信息的功能,而且因为读取时候的位线从传统的双位闪存单元的读取时候的1.5V降低到1V,大大地降低了共位线但未被选中的其他存储单元的泄漏电流,选中的存储单元的不同状态下的开关比也有5个数量级以上的提高。在相同工艺条件下,可以保证双位闪存单元的按比例缩小的能力,增加双位闪存技术的存储密度。
申请公布号 CN1719617A 申请公布日期 2006.01.11
申请号 CN200510082812.6 申请日期 2005.07.08
申请人 北京大学 发明人 蔡一茂;单晓楠;周发龙;李炎;黄如;王阳元
分类号 H01L29/788(2006.01);H01L27/112(2006.01) 主分类号 H01L29/788(2006.01)
代理机构 北京君尚知识产权代理事务所 代理人 贾晓玲
主权项 1、一种两端存储信息的双位闪存单元,包括:接负偏压的衬底、源区、漏区、氮化硅浮栅以及多晶硅控制栅,氮化硅浮栅位于源区、漏区上方,电子存储在氮化硅浮栅的两端,根据存储数据的状态,源区或漏区接有位线,位线接正偏压,控制栅接读取电压。
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