发明名称 |
两端存储信息的双位闪存单元及其读取方法 |
摘要 |
本发明提供了一种两端存储信息的双位闪存单元的读取方法,属于非挥发性半导体存储器技术领域。与传统的双位闪存读取方法相比,本发明通过衬底和位线的电压组合,在存储单元的沟道内形成足够宽的耗尽层,实现了能够有效读取双位闪存单元中任何一位信息的功能,而且因为读取时候的位线从传统的双位闪存单元的读取时候的1.5V降低到1V,大大地降低了共位线但未被选中的其他存储单元的泄漏电流,选中的存储单元的不同状态下的开关比也有5个数量级以上的提高。在相同工艺条件下,可以保证双位闪存单元的按比例缩小的能力,增加双位闪存技术的存储密度。 |
申请公布号 |
CN1719617A |
申请公布日期 |
2006.01.11 |
申请号 |
CN200510082812.6 |
申请日期 |
2005.07.08 |
申请人 |
北京大学 |
发明人 |
蔡一茂;单晓楠;周发龙;李炎;黄如;王阳元 |
分类号 |
H01L29/788(2006.01);H01L27/112(2006.01) |
主分类号 |
H01L29/788(2006.01) |
代理机构 |
北京君尚知识产权代理事务所 |
代理人 |
贾晓玲 |
主权项 |
1、一种两端存储信息的双位闪存单元,包括:接负偏压的衬底、源区、漏区、氮化硅浮栅以及多晶硅控制栅,氮化硅浮栅位于源区、漏区上方,电子存储在氮化硅浮栅的两端,根据存储数据的状态,源区或漏区接有位线,位线接正偏压,控制栅接读取电压。 |
地址 |
100871北京市海淀区颐和园路5号 |