Test mode circuit in a semiconductor device,申请号KR20030080045-传众专利搜索

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发明名称	Test mode circuit in a semiconductor device
摘要
申请公布号	KR100542695(B1)	申请公布日期	2006.01.11
申请号	KR20030080045	申请日期	2003.11.13
申请人		发明人
分类号	G11C29/00;G01R31/28;G01R31/317;G06F7/38;H03K19/173	主分类号	G11C29/00
代理机构		代理人
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