发明名称 |
多晶硅层的制作方法 |
摘要 |
一种多晶硅层的制作方法,包括下列步骤:(a)提供一衬底;(b)于衬底上形成一阻障层;(c)于阻障层上形成一具有低热传导系数的多孔材料层;(d)于多孔材料层上形成一非晶硅层;以及(e)进行一激光退火制作工艺。由于多孔材料层具有低热传导系数,故可以形成具有较大晶体尺寸的多晶硅层。此外,上述阻障层与多孔材料层之间例如可选择性地形成一应力缓冲层。由于多孔材料层具有低热传导系数,故可使得所成长出来的多晶硅层具有较大的晶体尺寸。 |
申请公布号 |
CN1236475C |
申请公布日期 |
2006.01.11 |
申请号 |
CN02146581.9 |
申请日期 |
2002.10.22 |
申请人 |
友达光电股份有限公司 |
发明人 |
彭佳添 |
分类号 |
H01L21/00(2006.01);G02F1/136(2006.01) |
主分类号 |
H01L21/00(2006.01) |
代理机构 |
北京集佳知识产权代理有限公司 |
代理人 |
王学强 |
主权项 |
1、一种多晶硅层的制作方法,其特征在于:包括:提供一衬底;于该衬底上形成一阻障层;于该阻障层上形成一多孔材料层,其中该多孔材料层的材质包括氧化硅与氧化铝的混和物,且该阻障层与该多孔材料层构成一缓冲层;于该多孔材料层上形成一非晶硅层;进行一激光退火制作工艺,以形成一多晶硅层。 |
地址 |
台湾省新竹科学工业园区新竹市力行二路1号 |