| 发明名称 | 盘设备和盘处理方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及盘设备和盘处理方法，其中盘设备包括被构造成检测光盘缺陷的缺陷检测单元(30)、被构造成基于缺陷检测单元的缺陷检测结果设置在该盘的所有记录区域中能够实际地记录信息的实际记录区的设置单元(26)和被构造成在通过设置单元设置的实际记录区域中记录用户信息的记录单元(22)。 | ||
| 申请公布号 | CN1235202C | 申请公布日期 | 2006.01.04 |
| 申请号 | CN200310118335.5 | 申请日期 | 2003.11.21 |
| 申请人 | 株式会社东芝 | 发明人 | 铃木贵广 |
| 分类号 | G11B7/004(2006.01);G11B7/095(2006.01);G11B20/18(2006.01) | 主分类号 | G11B7/004(2006.01) |
| 代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 李德山 |
| 主权项 | 1.一种盘设备，包括：被构造成检测盘缺陷的缺陷检测单元(30)；被构造成基于缺陷检测单元的缺陷检测结果设置在该盘的所有记录区中能够实际地记录信息的实际记录区的设置单元(26)；和被构造成在通过设置单元设置的实际记录区中记录用户信息的记录单元(22)，其特征在于该缺陷检测单元检测对应于径向距离的每个预定区的缺陷，和该设置单元基于通过缺陷检测单元所检测的缺陷检测结果获得每个预定区的记录性能，并设置在盘的所有的记录区中不满足预定的记录性能水平的最内的一个区域里面的区域作为能够实际记录信息的实际记录区。 | ||
| 地址 | 日本东京都 | ||