发明名称 |
光学头 |
摘要 |
光盘由于在其半径方向倾斜时发生的彗形象差的影响引起跟踪信号产生相位偏移,使跟踪控制的精度减低。在光学头中设置:集光于光盘的物镜(4)、收受从光盘反射的反射光束、获得受光信号的受光装置(8)、从受光信号中检测跟踪误差信号的跟踪误差信号检测装置(9)、以及使入射到受光装置(8)的反射光束中、用于检测跟踪误差信号的跟踪误差信号检测用光束的部的领域的光量衰减的光学装置(6)。 |
申请公布号 |
CN1235205C |
申请公布日期 |
2006.01.04 |
申请号 |
CN01814621.X |
申请日期 |
2001.06.22 |
申请人 |
松下电器产业株式会社 |
发明人 |
荒井昭浩;林卓生;中村徹;永田貴之 |
分类号 |
G11B7/09(2006.01);G11B7/095(2006.01) |
主分类号 |
G11B7/09(2006.01) |
代理机构 |
上海专利商标事务所有限公司 |
代理人 |
赵国华 |
主权项 |
1.一种光学头,其特征在于,用于将信息记录于光盘,及/或用于再生记录于所述光盘的信息,包括集光于所述光盘、生成光点的集光装置,收受从所述光盘反射的反射光束的受光装置,从所述受光装置检测的信号中检测所述光点与所述信息磁道的位置偏移的跟踪误差信号检测装置,以所述跟踪误差信号为基础、检测相对于所述集光装置的光轴的所述光盘倾斜度的光盘倾斜度检测装置;所述受光装置,具有使分离为使所述反射光束的中央部领域受光的第1子受光领域以及使所述反射光束的周边部领域受光的第2子受光领域受光的多个受光领域,所述第1子受光领域的形状呈现略长方形,其长边的长度等于或大于入射到所述受光装置的光束的直径,短边的长度短于入射到所述受光装置的光束的直径,配置中使其长边向着所述信息磁道的垂直方向,所述跟踪误差信号检测装置,从由所述第1子受光领域得到的受光信号中检测第1子跟踪误差信号,又从由所述第2子受光领域得到的受光信号中检测第2子跟踪误差信号,所述光盘倾斜度检测装置,将所述第1子跟踪误差信号及所述第2子跟踪误差信号进行比较、通过检测所述光点横断所述信息磁道时产生的信号波形的相位差、检测光盘倾斜度。 |
地址 |
日本国大阪府门真市 |