| 摘要 |
一种用来测试一探针设备的设备接点与一待测的电子装置的测试接点沿着一连接轴的连接之探针，其具有一上结构，一下结构，一弹簧件及一导引件。该导引件可以是该弹簧件的一外导引面。该导引件亦可以是该下结构或上结构的一部分，其形式为一圆周的凹部或一搭扣指件(snap finger)。该探针可被可滑移地导引于一硬式(rigid)载具结构内及／或可透过其圆周的凹部被导引于一或两个被搭扣到一硬式支撑框上的可挠曲件的结构内。探针可藉由微型制造技术而以一固定的制造节距被同步地大量制造及组装在一探针设备中，其中探针节距与制造结构是无关连的。 |
