发明名称 |
Herstellungsverfahren für eine Schattenmaske in einem Graben einer mikroelektronischen oder mikromechanischen Struktur sowie Verwendung derselben |
摘要 |
Die vorliegende Erfindung schafft ein Herstellungsverfahren für eine Schattenmaske in einem Graben einer mikroelektronischen oder mikromechanischen Struktur mit den Schritten: Vorsehen von einem Graben (5) in der mikroelektronischen oder mikromechanischen Struktur (1, 2, 3); Vorsehen einer teilweisen Füllung (20) in dem Graben (5); Vorsehen einer ersten Linermaskenschicht (50) auf der teilweisen Füllung (20); Vorsehen einer Opferfüllung (60) auf der Linermaskenschicht (50) zum vollständigen Auffüllen des Grabens (5); flaches Rückätzen der Opferfüllung (60) in den Graben (5); Bilden einer ersten Maske (70; 100, 110) an der Oberseite der Opferfüllung (60) im Graben (5); Entfernen eines Teilbereichs der Opferfüllung (60) im Graben (5) unter Verwendung der ersten Maske (70; 100, 110) und optionelles Entfernen eines darunterliegenden Teilbereichs der ersten Linermaskenschicht (50) auf der teilweisen Füllung (20), wobei der verbliebene Teilbereich der Opferfüllung (60) im Graben (5) als zweite Maske dient.
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申请公布号 |
DE102004029516(B3) |
申请公布日期 |
2005.12.29 |
申请号 |
DE20041029516 |
申请日期 |
2004.06.18 |
申请人 |
INFINEON TECHNOLOGIES AG |
发明人 |
TEMMLER, DIETMAR;REGUL, JOERN |
分类号 |
B81C1/00;H01L21/265;H01L21/31;H01L21/3213;H01L21/8242;(IPC1-7):H01L21/824 |
主分类号 |
B81C1/00 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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