发明名称 | PCI测试卡及其测试方法 | ||
摘要 | 一种PCI测试卡,包括:信号发生器、延时门阵列、控制电路和显示单元,其中信号发生器产生测试所需的信号,延时门阵列对信号进行不同门延迟数的延时后输出,显示单元显示当前的信号所经的门延迟的个数,控制电路控制信号的产生以及所经门延迟的个数。本发明结构简单,能够直接测出建立时间和保持时间容限,且测试精度和测试效率较高。 | ||
申请公布号 | CN1713155A | 申请公布日期 | 2005.12.28 |
申请号 | CN200410025337.4 | 申请日期 | 2004.06.22 |
申请人 | 上海环达计算机科技有限公司 | 发明人 | 杜春艳;张林;王玉杰;周传国 |
分类号 | G06F11/22 | 主分类号 | G06F11/22 |
代理机构 | 上海翼胜专利事务所 | 代理人 | 翟羽 |
主权项 | 1、一种PCI测试卡,其特征在于它包括:信号发生器、延时门阵列、控制电路和显示单元,其中信号发生器产生测试所需的信号,延时门阵列包括复数个门延迟,其中单个门延迟对信号滞后一延迟时间,显示单元显示当前的信号所经的门延迟的个数,控制电路控制信号的产生以及所经门延迟的个数。 | ||
地址 | 200040上海市南京西路1486号2号楼 |