发明名称 用于修复集成电路设计缺陷的备用单元结构
摘要 一完全自足配置备用门单元(11),具有两种类型的输入:功能输入总线(FIN;10,12;68;76)和方程输入总线(EQ.IN;70;78),通过判定方程输入总线上的某些信号,备用门单元可转化成任一积和操作器。备用单元还可包括一D触发器(38、84)。在备用状态中,功能输入总线与对缺陷修复有较高需求的预定义逻辑区域(64)连接。因此,在芯片设计的布局-走线(place-and-route)阶段,备用单元被自动的放置在靠近缺陷-修复区域,这样可以减少查找走线通道的需求。
申请公布号 CN1714508A 申请公布日期 2005.12.28
申请号 CN03825682.7 申请日期 2003.09.17
申请人 爱特梅尔股份有限公司 发明人 A·韦尔涅
分类号 H03K19/003;H03K19/177 主分类号 H03K19/003
代理机构 上海专利商标事务所有限公司 代理人 李玲
主权项 1.一具有多个互连逻辑单元的集成电路,大致包括至少一缺陷逻辑单元,多个分散在所述集成电路中用于替换所述缺陷单元的备用单元,各所述备用单元包括:一可配置组合网络(CCN),执行任一多个积和逻辑功能,所述CCN具有多个的方程输入端,所述方程输入端接收使CCN配置成可执行一个或多个规定逻辑功能的多个控制信号,多个功能输入端和一个或多个输出端有选择地连接在集成电路中以替换缺陷单元,以在所述功能输入端接受来自所述集成电路的不同数据的信号并且向所述集成电路输出根据所述数据信号所执行规定逻辑功能的结果。
地址 美国加利福尼亚州