TEST PROBE FOR SEMICONDUCTOR PACKAGE,申请号KR20040046585-传众专利搜索

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发明名称	TEST PROBE FOR SEMICONDUCTOR PACKAGE
摘要
申请公布号	KR20050121450(A)	申请公布日期	2005.12.27
申请号	KR20040046585	申请日期	2004.06.22
申请人	SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.	发明人	KANG, SUN WON
分类号	G01R1/067;G01R31/02;(IPC1-7):G01R1/067	主分类号	G01R1/067
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