发明名称 Systeme und Verfahren zum Bestimmen kompensierter Leitfähigkeiten
摘要 Die offenbarten Systeme und Verfahren bestimmen Kompensationsfaktoren, kompensierte Leitfähigkeiten, Konzentrationen und andere verwandte Parameter einer Lösung beruhend auf der Temperatur und absoluten Leitfähigkeit der Lösung.
申请公布号 DE102005025689(A1) 申请公布日期 2005.12.22
申请号 DE200510025689 申请日期 2005.06.03
申请人 INVENSYS SYSTEMS, INC. 发明人 HOWE, SPENCER
分类号 G01L7/00;G01N27/06;(IPC1-7):G01N27/06 主分类号 G01L7/00
代理机构 代理人
主权项
地址