| 主权项 |
1.一种天线性能测试箱,其包括有:一箱体,包括有可发出电磁波之一电磁波发射元件,及相互枢接之一掀盖及一底座,且该掀盖及该底座形成有一容置空间;一转盘,可旋转地设置于该底座及该容置空间内;及一夹臂,可活动地设置于该转盘,用以夹持配置有一天线之一电子仪器,以由该转盘及该夹臂改变该天线在三维空间中的向量,并以该电磁波发射元件所发出的电磁波测试该天线。2.如申请专利范围第1项所述天线性能测试箱,其中该掀盖设置有一吸波元件,以吸收电磁波。3.如申请专利范围第1项所述天线性能测试箱,其中该底座包括有一转盘控制器,以控制该转盘转动的角度。4.如申请专利范围第3项所述天线性能测试箱,其中该转盘控制器控制该转盘所能转动的角度系为零度至一百八十度。5.如申请专利范围第1项所述天线性能测试箱,其中该底座包括有一夹臂控制器,以控制该夹臂活动的角度。6.如申请专利范围第5项所述天线性能测试箱,其中该夹臂控制器以控制该夹臂所能活动的角度系为零度至三百六十度。7.如申请专利范围第1项所述天线性能测试箱,其中该底座包括有一分析仪连接单元,以供一频谱分析仪连接。8.如申请专利范围第1项所述天线性能测试箱,其中该底座包括有一控制器连接单元,以供一电磁波控制器连接,而控制该电磁波发射元件所发出的电磁波强度。9.如申请专利范围第1项所述天线性能测试箱,其中该夹臂包括有一本体、一转体及一夹体,该本体一端设置于该转盘,另一端枢设有可相对其旋转之该转体,而该夹体设置于该转体,以夹持该电子仪器,并可与该转体一同旋转。图式简单说明:第1图为本发明与连接其之相关仪器的示意图;第2图为本发明、连接其之相关仪器与电子仪器设置于本发明的示意图;及第3图为本发明之底座、夹臂及电子仪器相关位置示意图。 |
