| 主权项 |
1.一种侦测微量的分子目标物之方法,其系利用目 标物与二个分子探针之间的专一性交互作用来进 行,该方法包含: 将该分子探针中之一者附着于导电性珠粒上, 将该探针中另一者固定于二电极之间的间隙中, 对该电极施予一电位差,以及 监测由该电极中之一者到该电极中之另一者之电 流增加量,其可发生于若该导电性珠粒藉由该专一 性之交互作用拉入该间隙时, 其中该电极之间的铁珠粒的物理定位作用造成电 路封闭,且该探针与该目标物之间反应的专一性是 侦测的基础。 2.如申请专利范围第1项之方法,其中该探针中之一 者系物理性地结合至该电极之间的“井"中。 3.如申请专利范围第1项之方法,其中该导电性珠粒 为铁珠粒。 4.如申请专利范围第1项之方法,其中该导电性珠粒 在附着于该分子探针中之一者之前先被消磁。 5.如申请专利范围第4项之方法,其中该消磁作用是 藉由在经屏障以与地球及其他磁场相隔的环境下 加热来进行。 6.如申请专利范围第1项之方法,其中藉由去除载体 流体中所有氧,使该导电性珠粒免于生锈。 7.如申请专利范围第1项之方法,其系被采用来侦测 经微处理器控制的微阵列中之多作用剂/分子。 8.如申请专利范围第1项之方法,其系被采用来分析 特定物质之浓度。 9.一种侦测微量之分子目标物的方法,该方法利用 目标物及二分子探针之间的专一性交互作用来进 行,该方法包含下述步骤: (a)藉由加入气体或固体至溶液中制备一样本或制 备一待监别的作用剂, (b)将该样本引入一侦测装置中,该侦测装置具有存 在于二电极问之间隙,该间隙含有探针,并容许结 合/杂交反应发生, (c)在步骤(b)进行前、进行期间或进行后,加入第二 个探针,其结合至导电性珠粒并容许专一性之结合 /杂交反应发生,以及 (e)藉由侦测该电极间任何电流的改变,测定该导电 性粒子结合至该间隙是否已发生。 10.如申请专利范围第9项之方法,其中步骤(e)系比 下述步骤优先进行: (d)调整溶液的化学性质及/或温度以使反应条件最 适化。 11.如申请专利范围第9项之方法,其中该步骤(e)中 使用微处理器。 12.如申请专利范围第9项之方法,其中该步骤(a)包 括使细胞物理及/或化学地缩小成其成分并使其释 出以供侦测。 13.如申请专利范围第1项之方法,其系设计为二或 三度空间的微阵列以侦测可以进行杂交、抗原-抗 体反应与受器-配体反应之不同分子的存在与浓度 ,其包括但不限定于核酸、蛋白质、碳水化合物、 脂质及无机分子。 14.如申请专利范围第13项之方法,其包括内装的二 重覆或三重覆以供品质控制。 15.如申请专利范围第13项之方法,其包括与负控制 一起进行之电子式自我检查及/或预分析试验。 16.如申请专利范围第13项之方法,其包括与正控制 一起进行的后分析试验,其中此试验的结果应该是 负的。 17.一种用于分析溶液中给定物质之浓度的方法,包 含: 提供一个别晶片的阵列,每个晶片包含一封闭的电 路,该电路包括界于一对电极之间的结合探针之分 析物及导电性珠粒,其中晶片在电极之间的间隙尺 寸及经结合之分析物的量上不同,及因此该珠粒之 量不同, 导入含有一未知浓度之分析物的样本到该微阵列 中, 藉此该分析物竞争地置一取代晶片中经珠粒结合 之探针,该晶片为含有特定量或少量之经结合的分 析物,而非含有大量经结合之分析物的晶片,以及 具有充分经取代之珠粒之晶片将转换为一开放的 电路。 18.如申请专利范围第17项之方法,其中利用已知浓 度之标准品先进行校正,容许进行该样品中分析物 之浓度分析。 19.一种分析一特定物质之浓度的方法,包含下述步 骤: 提供一相同晶片之阵列,在二电极之间有一小间隙 ,该电极仅接受一导电性珠粒及结合井之探针, 将含有未知量分析物的样品引入位在卡匣内之该 微阵列中,该卡匣含有比样品中的分析物量还要少 的已知量之经添加的结合珠粒之探针,藉此 游离的分析物与结合分析物之结合珠粒之探针(形 成于引入之分析物与卡匣内侧之结合珠粒的探针 反应后),竞争结合该电生物晶片之有限数量的该 结合井的探针,并且 监测由该等电极之一至另一电极间之电流变化。 20.如申请专利范围第19项之方法,其包含利用先前 已知之结合珠粒之探针的量,计算样品中分析物的 浓度,藉由微处理机记录"开启"至"关闭"讯号的比 例及利用已知浓度之分析物的标准品预先校正。 21.一种用于侦测微量分子目标物的装置,其系藉由 利用目标物与二分子探针之间的专一性交互作用 来进行,该装置包含: 一井,其具有彼此相隔以形成一间隙的二个电极, 以及该探针中之一者附着于该井, 用于对该电极施加一电位差的构件,以及 用于监测由该电极中之一者至另一者之电流增加 的构件,其可发生于若该导电性珠粒藉由该专一性 之交互作用拉入该间隙时。 22.如申请专利范围第21项之装置,其中该装置系与 多数其他相同之装置一起收容在一微阵列中。 23.如申请专利范围第21项之装置,其中该微阵列系 收容入一卡匣中。 24.如申请专利范围第23项之装置,其进一步与一可 以携带的装置组合,该可以携带的装置建构有可容 纳该卡匣之沟槽。 25.如申请专利范围第24项之装置,其进一步包括一 微处理器,其读取来自设置于该卡匣上的监别器之 该卡匣的内容。 图式简单说明: 第1图为应用于测试装置之电路的概要图, 第2图为显示二个分别含有附着的探针及附着的抗 体之晶片的概要图, 第3图描述添加经结合之铁珠粒之第二探针的概要 图, 第4图描述一可能之微阵列设计的概要图, 第5图描述一定量分析物方法背后的原理, 第6图描述使用一微阵列定量分析物之概要图,该 微阵列含有事先经结合之珠粒,该珠粒具有夹在探 针之间的目标物, 第7图为描述另一个分析物的定量方法之原理的概 要图,此方法利用竞争性的结合,而非事先结合之 珠粒, 第8图为描述第二种分析物的定量方法之概要图, 此方法系在过量分析物存在下利用微阵列, 第9图为描述用于亨丁顿氏基因(Huntingtin gene)之重 覆区域的二探针的设计之概要图, 第10图为描述另一组探针之概要图,此探针之重覆 组合数目,比存在于既定病患中之重覆的正确数目 还少。该探针之二端无接合作用发生,以及 第11图为描述另一组探针之概要图,该探针之重覆 组合数目,比存在既定病患中重覆的正确数目还多 ,造成悬突之探针及接合作用的失败。 |
