发明名称 化合物半导体开关电路装置
摘要 虽然省略旁路FET后大幅度地缩小了开关电路的芯片尺寸,但在扩展FET的栅宽的要求中,必须再次增加芯片尺寸。通过用n+型杂质扩散区形成电阻并在邻接的衬垫和布线层下也形成n+型杂质扩散区,可使各自的间隔减少到4微米。通过使曲折的电阻的配置的宽度变窄以有效地利用空间,在控制端子与输出端子之间配置全部的电阻和FET的一部分,可在同一芯片尺寸的原有状态下增加FET的栅宽。
申请公布号 CN1233042C 申请公布日期 2005.12.21
申请号 CN02122846.9 申请日期 2002.06.07
申请人 三洋电机株式会社 发明人 浅野哲郎;榊原干人
分类号 H01L29/778;H03K17/00 主分类号 H01L29/778
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 刘宗杰;叶恺东
主权项 1.一种化合物半导体开关电路装置,其中,在沟道区的表面上形成设置了源电极、栅电极和漏电极的第1和第2FET,将两FET的源电极或漏电极作为共用输入端子,将两FET的漏电极或源电极作为第1和第2输出端子,具有连接到上述两FET的栅电极上的第1和第2控制端子和分别连接上述两FET的栅电极与上述两控制端子的第1和第2电阻,对两FET的栅电极施加控制信号,使上述第1FET或上述第2FET导通,在上述共用输入端子与上述第1输出端子之间或在上述共用输入端子与上述第2输出端子之间形成信号路径,其特征在于:减少至少一方的上述电阻的占有面积,在空闲的区域中设置上述一方的FET的一部分。
地址 日本大阪府