发明名称 x射线检查设备
摘要 一种x射线检查设备包括x射线源和x射线检测器。该x射线检测器包含从入射x射线辐射中导出电荷的光电导体和从来自光电导体的电荷中导出电像素信号的读出单元。中心组的读出单元位于x射线检测器的中心区域,而外围组的读出单元位于围绕中心区域的外围区域中。该x射线检查设备具有选择中心组的读出单元的选择系统,以便从中心组的读出单元中提供像素信号给输出电路。该选择系统可包含从外围组中排出电荷的环绕电极。或者,该选择系统保护外围组不受x射线的影响。
申请公布号 CN1711642A 申请公布日期 2005.12.21
申请号 CN200380103521.X 申请日期 2003.10.27
申请人 皇家飞利浦电子股份有限公司 发明人 H·K·维茨奥雷克
分类号 H01L27/144;H01L27/146 主分类号 H01L27/144
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 刘红;陈景峻
主权项 1.一种x射线检查设备,包括x射线源和x射线检测器,-该x射线检测器包含-光电导体,从入射的x射线辐射中导出电荷,和-读出单元,从来自光电导体的电荷中导出电像素信号,和-输出电路,从读出单元中输出电像素信号,其中-中心组的读出单元位于x射线检测器的中心区域中,和-外围组的读出单元位于围绕中心区域的外围区域中,-该x射线检查设备具有-选择系统,选择中心组的读出单元,以便从中心组的读出单元中提供像素信号给输出电路。
地址 荷兰艾恩德霍芬