发明名称 |
n型III族氮化物半导体层状物N-TYPE GROUP III NITRIDE SEMICONDUCTOR LAYERED STRUCTURE |
摘要 |
本发明之目的系提供一种凹坑之发生少且具有优越的平坦性之低电阻之n型III族氮化物半导体层状物。本发明之n型III族氮化物半导体层,其特征为由积层在基板上,具有n型杂质原子高浓度层及n型杂质原子低浓度层之n型杂质浓度周期性变化层所构成,且该低浓度层系积层在该高浓度层上。 |
申请公布号 |
TW200541113 |
申请公布日期 |
2005.12.16 |
申请号 |
TW094113229 |
申请日期 |
2005.04.26 |
申请人 |
昭和电工股份有限公司 |
发明人 |
东章;酒井浩光;小早川真人;奥山峰夫;友泽秀喜;三木久幸;约瑟盖兹;堀川俊治;樱井哲朗 |
分类号 |
H01L33/00;H01S5/30 |
主分类号 |
H01L33/00 |
代理机构 |
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代理人 |
何金涂;何秋远 |
主权项 |
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地址 |
日本 |