发明名称 |
在平面纺织物中评估瑕疵的方法和装置 |
摘要 |
本发明涉及一种识别平面纺织物(2)中瑕疵的方法,其中从平面纺织物中得到信号,并且至少利用预定参数加以处理。该发明还涉及在平面纺织物中识别瑕疵的装置(3),所述装置包含一传感器,一处理单元以及一输入/输出单元。处理单元与传感器连接,并与输入/输出单元连接,并且以这样一种方式实现和设置,使得至少利用预定参数处理由在平面纺织物上的传感器检测的信号,并且产生指示平面纺织物中缺陷的输出信号。为了以一种简单迅速的方式,将对于识别平面纺织物中缺陷的方法和装置的参数适应于平面物品瑕疵识别处理,预定参数的固定数据载体(26)服从于传感器的动作,并且传感器以这样一种方式实现和设置,使得读取固定数据载体的预定参数。 |
申请公布号 |
CN1708682A |
申请公布日期 |
2005.12.14 |
申请号 |
CN200380102573.5 |
申请日期 |
2003.11.03 |
申请人 |
乌斯特技术股份公司 |
发明人 |
R·罗伊恩伯格 |
分类号 |
G01N21/898;G06T7/00;D06H3/08 |
主分类号 |
G01N21/898 |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人 |
苏娟;胡强 |
主权项 |
1、一种方法,其用于评估平面纺织物中的瑕疵,其特征在于:选择两个参数用于评估;形成一个分级矩阵(1,26),其中参数值确定级边界并且级边界(4-19)将分级矩阵分割成块;该分级矩阵进一步如下分割成至少两个区域(17,18;29,30),对于无暇疵平面物品的像素确定所述一个参数的平均值并且根据相对于平均值的参数偏差最大的像素组确定两个区域之间的边界;沿着分级边界至少分割成两个区域;从所显示的像素(37,38)中得到平面物品中的值,并且将根据两个被选择的参数将值排列在分级矩阵中,并且排列在分级平面物品的所述一个区域中的像素表示在平面物品中可能的瑕疵。 |
地址 |
瑞士乌斯特 |