一种边界扫描芯片容错测试方法及系统

摘要

本发明涉及在容错测试中边界扫描芯片故障插入的一种方法和系统。一种边界扫描芯片容错测试方法，其特征在于包括如下步骤：向边界扫描芯片发送测试命令，模拟边界扫描芯片故障状态；将模拟故障状态与边界扫描芯片正常状态做对比，得出测试数据。一种测试系统，包括终端机、故障插入测试板，其特征在于还包括一个测试头，所述的测试头上带有一个芯片，该芯片中存储有驱动程序，用来产生JTAG信号驱动，所述的终端机通过并行端口与测试头相连，所述的测试头通过测试电缆与测试板相连。利用本发明将更加方便和简捷地实现对芯片的故障插入。

主权项

1、一种边界扫描芯片容错测试方法，其特征在于包括如下步骤：向边界扫描芯片发送测试命令，模拟边界扫描芯片故障状态；通过模拟故障状态与边界扫描芯片正常状态做对比，得出测试数据；当所述的测试命令为外部测试指令时，可将边界扫描芯片的外部引脚和内核电路从逻辑上断开，从而模拟整个边界扫描芯片失效；当所述的测试命令为内部测试指令时，可通过输入型扫描单元向边界扫描芯片内部写入确定的数值，改写边界扫描芯片的内部寄存器值，从而模拟边界扫描芯片局部故障。