发明名称 |
具应变通道层的晶圆的制作方法 |
摘要 |
本发明揭露一种具应变通道层的晶圆的制作方法。首先,提供一具有一多孔硅层的第一基材,进行第一热处理以在多孔硅层表面形成一第一硅表面层。接着,外延成长一松弛的硅锗层于第一硅表面层上,在松弛的硅锗层上形成一接合层,再将接合层与一第二基材接合。移除多孔硅层及第一基材,并将接合层及松弛的硅锗层保留于第二基材上。进行第二热处理以在松弛的硅锗层表面上形成一第二硅表面层。最后,外延成长一外延硅层于第二硅表面层上。成长于松弛的硅锗层上的外延硅层将具有张力应变。 |
申请公布号 |
CN1230874C |
申请公布日期 |
2005.12.07 |
申请号 |
CN02147385.4 |
申请日期 |
2002.10.21 |
申请人 |
台湾积体电路制造股份有限公司 |
发明人 |
黄健朝;杨育佳;杨国男;林俊杰;胡正明 |
分类号 |
H01L21/20;H01L21/324;H01L21/00 |
主分类号 |
H01L21/20 |
代理机构 |
隆天国际知识产权代理有限公司 |
代理人 |
陈红;徐金国 |
主权项 |
1、一种半导体基材的制作方法,该方法至少包括下列步骤:提供一第一基材,该第一基材的一表面上具有一多孔硅层;在该第一多孔硅层上形成一第一硅表面层;在该第一硅表面层上形成一硅锗层;在该硅锗层上形成一接合层;接合该接合层至一第二基材;移除该第一基材及该多孔硅层,并在该第二基材上保留该接合层及该硅锗层;在该硅锗层上形成一第二硅表面层;以及在该第二硅表面层上形成一硅层。 |
地址 |
中国台湾 |