| 发明名称 | 使用可更新的缺陷管理区域管理磁盘缺陷的方法和装置以及磁盘 | ||
| 摘要 | 提供了一种使用可被更新的缺陷管理区域的盘缺陷管理方法和装置，和一次写入盘。该一次写入盘是导入区域、数据区域、和导出区域被顺序地置于其中的单记录层盘，该盘包括在导入区域和导出区域中至少出现一次的缺陷管理区域(DMA)，其中根据记录操作缺陷信息和缺陷管理信息被重复地记录在DMA中。因此，盘缺陷管理方法和装置可应用于一次写入盘并且能够有效地使用缺陷管理区域。 | ||
| 申请公布号 | CN1705983A | 申请公布日期 | 2005.12.07 |
| 申请号 | CN200380101600.7 | 申请日期 | 2003.10.14 |
| 申请人 | 三星电子株式会社 | 发明人 | 黄盛凞;高祯完;李坰根 |
| 分类号 | G11B7/007 | 主分类号 | G11B7/007 |
| 代理机构 | 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人 | 郭鸿禧;冯敏 |
| 主权项 | 1、一种一次写入盘，该盘是单记录层盘，其中，导入区域、数据区域、和导出区域被顺序地放置，该盘包括在导入区域和导出区域中出现至少一次的缺陷管理区域(DMA)，其中，根据记录操作缺陷信息和缺陷管理信息被重复记录在DMA中。 | ||
| 地址 | 韩国京畿道 | ||