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发明名称 test method for semiconductor memory
摘要
申请公布号 KR100533385(B1) 申请公布日期 2005.12.06
申请号 KR20040026043 申请日期 2004.04.16
申请人 发明人
分类号 G11C7/06;G01R31/26;G11C7/00;G11C29/00;G11C29/50;H01L21/66;(IPC1-7):G11C7/06 主分类号 G11C7/06
代理机构 代理人
主权项
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