发明名称 半导体装置及其制造方法
摘要 本发明揭示一种半导体装置(10)及其制造方法,该半导体装置包含一半导体主体(1),其具有一高欧姆半导体基板(2),在该基板上覆盖着一层含有电荷之介电层(3,4);在该介电层上,配置一或更多被动电子组件(20),其包含导体轨(20);一区域(5)存在于该半导体基板(2)与该介电层(3,4)之间的介面上;结果,被该等电荷诱导产生在该装置(10)内之一电气传导通道之传导性系被限制在该区域(5)的所在位置处。根据本发明,该区域(5)藉由沉积形成且包含一半绝缘材料。结果,该装置(10)具有一极低之高频功率损失,因为该反转通道系形成在该半绝缘区域(5)内。该装置(10)进一步允许比较高的温度预算,因此可以允许将主动半导体元件(8)整合到该半导体主体(1)内。用于该区域(5)之一适用的半绝缘材料像是SiC、SIPOS或POLYDOX。
申请公布号 TW200539442 申请公布日期 2005.12.01
申请号 TW094112959 申请日期 2005.04.22
申请人 皇家飞利浦电子股份有限公司 发明人 威伯 丹尼尔 凡 诺特;佩勒司 贺伯特 寇尼利 马尼;CORNELIS;利司 卡伦 那弗;席林 茱丽叶 德其弗瑞;雷蒙 贾可伯 哈凡司
分类号 H01L29/06 主分类号 H01L29/06
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 荷兰