发明名称 |
具有高K闸极介电层和金属闸极电极的半导体装置的制造方法A METHOD FOR MAKING A SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING A HIGH-K GATE DIELECTRIC LAYER AND A METAL GATE ELECTRODE |
摘要 |
本发明系关于一种半导体装置的制造方法。该方法包含形成第一介电层在一基板上,而后形成一沟槽在第一介电层内。在形成第二介电层在该基板上后,该第一金属层形成在沟槽内,在第二介电层的第一部份上。而后,第二金属层形成在第一金属层上和在第二介电层的第二部份上。 |
申请公布号 |
TW200539277 |
申请公布日期 |
2005.12.01 |
申请号 |
TW094110535 |
申请日期 |
2005.04.01 |
申请人 |
英特尔股份有限公司 |
发明人 |
贾斯丁 布雷斯科;杰克 卡瓦李耶罗;马克 杜西;乌戴 沙;克里斯 巴恩斯;马修 梅兹;苏门 戴塔;安娜丽莎 柯柏拉尼;罗伯特 赵 |
分类号 |
H01L21/02 |
主分类号 |
H01L21/02 |
代理机构 |
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代理人 |
林志刚 |
主权项 |
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地址 |
美国 |