发明名称 具有高K闸极介电层和金属闸极电极的半导体装置的制造方法A METHOD FOR MAKING A SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING A HIGH-K GATE DIELECTRIC LAYER AND A METAL GATE ELECTRODE
摘要 本发明系关于一种半导体装置的制造方法。该方法包含形成第一介电层在一基板上,而后形成一沟槽在第一介电层内。在形成第二介电层在该基板上后,该第一金属层形成在沟槽内,在第二介电层的第一部份上。而后,第二金属层形成在第一金属层上和在第二介电层的第二部份上。
申请公布号 TW200539277 申请公布日期 2005.12.01
申请号 TW094110535 申请日期 2005.04.01
申请人 英特尔股份有限公司 发明人 贾斯丁 布雷斯科;杰克 卡瓦李耶罗;马克 杜西;乌戴 沙;克里斯 巴恩斯;马修 梅兹;苏门 戴塔;安娜丽莎 柯柏拉尼;罗伯特 赵
分类号 H01L21/02 主分类号 H01L21/02
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 美国