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发明名称
形成应变通道电晶体的方法、应变通道电晶体对、应变通道N型金氧半与P型金氧半元件对HIGH PERFORMANCE STRAINED CHANNEL MOSFETS BY COUPLED STRESS EFFECTS
摘要
本发明提供一种包括PMOS与NMOS元件对的应变通道电晶体与其形成方法,以改善NMOS元件效能且实质上没降低PMOS元件效能,此方法包括提供半导体基底,形成复数个应变浅沟隔离区于半导体基底中,形成复数个PMOS与NMOS元件于半导体基底上且包括复数个掺杂的源极与汲极区,形成张应变接触蚀刻停止层(CESL)于PMOS与NMOS元件上,以及形成张应变介电绝缘层于CESL上。
申请公布号
TW200539445
申请公布日期
2005.12.01
申请号
TW094109273
申请日期
2005.03.25
申请人
台湾积体电路制造股份有限公司
发明人
张正宏;张文;傅竹韵
分类号
H01L29/66
主分类号
H01L29/66
代理机构
代理人
洪澄文;颜锦顺
主权项
地址
新竹市新竹科学工业园区力行六路8号
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