发明名称 粉体之相对介电常数或介电质之测定方法装置,使用于其等之空腔共振器,及应用装置
摘要 计算由粉体与液体介质组成之混合物质之相对介电常数,然后当该混合物质之相对介电常数变成等于该液体介质之相对介电常数时,该混合物质之相对介电常数或该液体介质之相对介电常数经计算作为该粉体之相对介电常数。因此即使于超过数十亿赫兹之高频带仍然可以高精度量测粉体之相对介电常数。
申请公布号 TWI244552 申请公布日期 2005.12.01
申请号 TW093129355 申请日期 2004.09.29
申请人 TDK股份有限公司 发明人 江克史
分类号 G01R27/06 主分类号 G01R27/06
代理机构 代理人 赖经臣 台北市松山区南京东路3段346号1112室;宿希成 台北市松山区南京东路3段346号1112室
主权项 1.一种粉体之相对介电常数之测定方法,该方法包含下列步骤:计算由粉体与液体介质组成之混合物质之相对介电常数;以及当该混合物质之相对介电常数变成等于该液体介质之相对介电常数时,计算该混合物质之相对介电常数或该液体介质之相对介电常数作为该粉体之相对介电常数。2.一种粉体之相对介电常数之测定方法,该方法包含下列步骤:密封由粉体与液体介质组成之混合物质于一共振器;然后输入电磁波至该共振器;基于电磁波之回应,来计算混合物质之相对介电常数;以及由该混合物质之相对介电常数及液体介质之相对介电常数,来求出该粉体之相对介电常数。3.一种粉体之相对介电常数之测定方法,该方法包含下列步骤:将电磁波输入一容器,于该容器内填充由粉体及液体介质组成之混合物质;基于电磁波之回应,来计算混合物质之相对介电常数;以及由该混合物质之相对介电常数及液体介质之相对介电常数,来求出该粉体之相对介电常数。4.如申请专利范围第2或3项粉体之相对介电常数之测定方法,其中当混合物质之相对介电常数变成等于液体介质之相对介电常数时,执行粉体相对介电常数之计算系藉计算混合物质之相对介电常数或液体介质之相对介电常数,来作为粉体之相对介电常数。5.如申请专利范围第1至3项中任一项粉体之相对介电常数之测定方法,其中检测混合物质之相对介电常数系等于液体介质之相对介电常数之时间点之程序,系经由于渐进改变液体介质之相对介电常数之同时量测混合物质之相对介电常数执行。6.如申请专利范围第1至3项中任一项粉体之相对介电常数之测定方法,其中该液体介质含有液体。7.如申请专利范围第1至3项中任一项粉体之相对介电常数之测定方法,其中该液体介质含有液体及粉体介电质。8.如申请专利范围第1至3项中任一项粉体之相对介电常数之测定方法,其中液体介质含有液体、粉体介电质及分散剂。9.一种粉体之相对介电常数之测定方法,该方法包含下列步骤:密封由粉体与液体介质组成之混合物质于一共振器;然后输入电磁波至该共振器;然后基于电磁波之回应,来计算混合物质之相对介电常数;以及由混合物质计算所得之相对介电常数及粉体于该混合物质之容积比,来求出该粉体之相对介电常数。10.一种粉体之相对介电常数之测定方法,该方法包含下列步骤:将电磁波输入一容器,于该容器内填充由粉体及液体介质组成之混合物质;基于电磁波之回应,来计算混合物质之相对介电常数;以及由混合物质计算所得之相对介电常数及粉体于该混合物质之容积比,来求出该粉体之相对介电常数。11.如申请专利范围第9或10项粉体之相对介电常数之测定方法,其中该液体介质之相对介电常数为粉体组成物之相对介电常数之0.5倍或以上。12.如申请专利范围第9或10项粉体之相对介电常数之测定方法,其中该液体介质之相对介电常数为粉体组成物之相对介电常数之0.5倍至2.0倍。13.如申请专利范围第9或10项粉体之相对介电常数之测定方法,其中该液体介质含有液体。14.如申请专利范围第9或10项粉体之相对介电常数之测定方法,其中该液体介质含有液体及粉体介电质。15.如申请专利范围第9或10项粉体相对介电常数之测定方法,其中该液体介质含有液体、粉体介电质及分散剂。16.如申请专利范围第9或10项粉体之相对介电常数之测定方法,其中该粉体之相对介电常数之计算系经由使用对数混合物法则或Lichtenecker-Rother's公式执行。17.一种空腔共振器,包含至少一个开口部形成于该空腔共振器之轴向方向中部,其中欲量测之介电质系插入该开口部内;以及一支持体形成于该开口部外侧,其中该开口部长度d与支持体长度h间之关系h/d设定为0.5或以上。18.一种空腔共振器,其系用于一种量测粉体之相对介电常数之方法,该方法包含下列步骤:密封由粉体与液体介质组成之混合物质于一共振器;然后输入电磁波至该共振器;然后基于电磁波之回应,来计算混合物质之相对介电常数;然后,由该混合物质之相对介电常数及液体介质之相对介电常数,来求出该粉体之相对介电常数,该空腔共振器包含:至少一个开口部形成于该空腔共振器,其中欲量测之介电质系插入该开口部内;以及一支持体形成于该开口部外侧,其中该开口部长度d与支持体长度h间之关系h/d设定为0.5或以上。19.一种空腔共振器,其系用于一种量测粉体之相对介电常数之方法,该方法包含下列步骤:密封由粉体与液体介质组成之混合物质于一共振器;然后输入电磁波至该共振器;然后基于电磁波之回应,来计算混合物质之相对介电常数;然后,由混合物质计算所得之相对介电常数及粉体于该混合物质之容积比,求出该粉体之相对介电常数,该空腔共振器包含:至少一个开口部形成于该空腔共振器,其中欲量测之介电质系插入该开口部内;以及一支持体形成于该开口部外侧,其中该开口部长度d与支持体长度h问之关系h/d设定为0.5或以上。20.一种介电质之测定系统,其系用于将一杆状介电质插入申请专利范围第17至19项中任一项之空腔共振器,然后量测空腔共振器之共振频率及未经负载Q値,然后基于量测结果,测定该被插入之杆状介电质之相对介电常数及介电耗损切线値。21.一种用于实施一目标共振之共振器,其特征在于将一杆状介电质插入申请专利范围第17至19项中任一项之空腔共振器。22.一种用于实施一目标共振之滤波器,其特征在于将一杆状介电质插入申请专利范围第17至19项中任一项之空腔共振器。图式简单说明:图1为根据本发明之较佳具体例,用于实施粉体相对介电常数量测方法之量测系统之方块图。图2为介电质密封装置4之示意透视图。图3为沿图2所示介电质密封装置4之X-X线所取之示意剖面图。图4为显示该液体介质之相对介电常数与该混合物质18之相对介电常数间之关系曲线图。图5为显示该液体介质之相对介电常数与该混合物质18之相对介电常数间之另一关系曲线图。图6为显示粉体容积比与混合物质18之相对介电常数间之关系曲线图。图7为显示使用帮浦之流体化装置38A之示意图。图8为根据本发明之另一较佳具体例,实施粉体之相对介电常数之量测方法用之量测系统之剖面图。图9为显示使用搅拌叶片之循环装置38B之示意图。图10为显示实施例1中,液体介质之相对介电常数与混合物质18之相对介电常数间之关系曲线图。图11为显示实施例2中,液体介质之相对介电常数与混合物质18之相对介电常数间之关系曲线图。图12为显示实施例3中,液体介质之相对介电常数与混合物质18之相对介电常数间之关系曲线图。图13为显示实施例4中,粉体容积比与混合物质18之相对介电常数间之关系曲线图。图14为显示实施例4中,粉体容积比与混合物质18之相对介电常数间之另一关系曲线图。图15为显示实施例5中,粉体容积比与混合物质18之相对介电常数间之关系曲线图。图16为显示实施例5中,粉体容积比与混合物质18之相对介电常数间之另一关系曲线图。图17为显示实施例6中,粉体容积比与混合物质18之相对介电常数间之关系曲线图。图18为显示实施例6中,粉体容积比与混合物质18之相对介电常数间之另一关系曲线图。图19(a)~(d)为显示用于本发明量测粉体相对介电常数用之圆柱体空腔共振器组配结构之图。图20(a)~(d)为说明圆柱体空腔共振器之电场分布图。图21为显示圆柱体空腔共振器支持体部分截止频率之图。图22为显示执行模拟,导出圆柱体空腔共振器之支持体最佳値,对共振器形状要求条件之图。图23为显示模拟结果之图。图24为说明因接受量测之介电质及相对介电常数造成的差异之图。图25为说明因共振器高度H造成差异之图。图26为说明因介电质之插入孔直径d造成差异之图。
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