发明名称 储存模组之电子测试方法
摘要 在以电子方式测试记忆模组之新颖方法之案例中,待测试之记忆模组连接至一测试电脑系统。一电脑系统构型档及待测试之记忆模组之测试资讯于是被电子读取至电脑系统中。其次,该记忆模组以逐步方式加以电子测试,在至少一功能测试中测试步骤之自动处理。该测试结果电子方式逐步储存在至少一结果档中,及加以自动评估。误差资讯以电子方式储存于至少一统计档并予输出。
申请公布号 TWI244654 申请公布日期 2005.12.01
申请号 TW092104314 申请日期 2003.02.27
申请人 亿恒科技股份公司 发明人 弗兰克.阿德勒;马尔库斯.弗尔斯特;弗兰克.蒂尔
分类号 G11C29/00 主分类号 G11C29/00
代理机构 代理人 蔡清福 台北市中正区忠孝东路1段176号9楼
主权项 1.一种电子式测试至少一记忆模组的方法,其可以脱离方式连接至电脑系统,方法具有下列步骤:a)至少一待测试之记忆模组连接至电脑系统,b)一电脑系统构型档以电子读取进入电脑系统中,c)供连接至电脑系统之每一记忆模组之各别记忆模组识别符输入至电脑系统中,d)连接至电脑系统之记忆模组之数目与输入之记忆模组识别符之数目加以电子比较,e)待测试之记忆模组之测试资讯或待测试之多个记忆模组之资讯,自至少一测试顺序构型档读取至电脑系统中,f)记忆模组或多个记忆模组以逐步方式由电脑系统加以电子测试,至少在一功能测试中自动处理测试步骤,g)测试结果逐步电子储存于至少一结果档,h)测试结果自动加以评估,i)如至少一记忆模组发生误差:误差资讯电子储存在至少一统计档,此误差资讯加以输出,及误差记忆模组或多个误差记忆模组被认出。2.如申请专利范围第1项之方法,其特征为在步骤e)之后实施步骤e'):e')连接至电脑系统之每一记忆模组之生产相关资料输入电脑系统,特别是批号。3.一种电脑产品,其具有一记忆元件,该记忆元件内部储存有一程式以实施电子测试至少一记忆模组之方法,该记忆模组以可脱离方式连接至一电脑系统,该电脑系统之型式系使申请专利范围第1或2项之方法可被实施。4.如申请专利范围第3项之电脑产品,其中该程式系保持在一储存媒体中。5.如申请专利范围第3项之电脑产品,其中该程式系储存于电脑记忆体中。6.如申请专利范围第3项之电脑产品,其中该程式系保持在一直接存取记忆体中。7.如申请专利范围第3项之电脑产品,其中该程式在一电子载波信号上发射。图式简单说明:图1为一流程图,说明本新颖发明方法,图2为记忆模组测试系统之图解说明。
地址 德国