| 摘要 |
【物品用途】本创作之测试卡为用以量测半导体之积体电路中之电性特征及其它类似电子产品之一种测试用卡片。【创作特点】本创作是有关于一种测试卡，特别是有关于一种圆盘造型、轻巧且易于携带之测试卡。本创作测试卡包括了一导件(如俯视图中之内圆所围绕的部分)、一基底(如俯视图中之外圆所围绕的部分)、复数探针及复数加强件，其中，复数探针是以间隔且环状排列方式分布于导件之内部，导件与基底于实质上呈现出同心、圆盘状结构，而复数加强件于实质上是以复数区块之似矩阵、放射状排列方式分布于基底之另一侧(如仰视图所示)，并且加强件之各区块之间是相互间隔。整体上除了经由个性化、独立性外部结构以直接强调出产品的圆曲造型诉求之外，其所采用之叠层外型更可于视觉上显得轻薄、精致且符合各种操作型态。由此观之，本创作之无疑地是一种匠心独具、精心巧思所建构下之现代化产品。如上所述，本创作之新颖的外观造型，使本创作不仅独具创意，亦深具美感，诚为符合新式样专利要件的创新设计。 |
