发明名称 用于测量集成电路的探针板
摘要 后视图、左视图、右视图与主视图相同,故省略后视图、左视图、右视图。
申请公布号 CN3488766D 申请公布日期 2005.11.30
申请号 CN200430113956.X 申请日期 2004.12.09
申请人 株式会社爱德万测试 发明人 石川贵治;黑鸟文夫;斋藤忠男
分类号 10-05 主分类号 10-05
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人 郭小军
主权项
地址 日本东京