发明名称 | 用于测量集成电路的探针板 | ||
摘要 | 后视图、左视图、右视图与主视图相同,故省略后视图、左视图、右视图。 | ||
申请公布号 | CN3488766D | 申请公布日期 | 2005.11.30 |
申请号 | CN200430113956.X | 申请日期 | 2004.12.09 |
申请人 | 株式会社爱德万测试 | 发明人 | 石川贵治;黑鸟文夫;斋藤忠男 |
分类号 | 10-05 | 主分类号 | 10-05 |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 郭小军 |
主权项 | |||
地址 | 日本东京 |