用于探测具有突起的接触元件的晶片的探测卡

摘要

提供了一种用于接触一具有突起的接触元件的电子元件的探测卡。具体说，本发明可用于接触一具有弹性接触元件、如弹簧的半导体晶片。将一探测卡设计成具有与晶片上的接触元件相配合的端子。在一较佳实施例中，端子是柱销。在一较佳实施例中，端子包括一适合于反复接触的接触材料。在一尤为优选的实施例中，将一间隔变换器制成在其一侧具有接触柱销，并在其相对侧具有端子。一具有弹簧接触件的插入器将该间隔变换器的相对侧上的一接触件连接于一探测卡上相应的端子，该端子进而连接于一可以与一诸如传统测试器之类的测试装置相连的端子。

主权项

1.一种探测卡组件，包括：一探测卡(321)，它包括多个电气接触件(331，332)；一探测基底(324)，它具有多个接触衬垫(336)，该接触衬垫设置用来接触一待探测器件(310)的突起的接触元件(301)；一第二基底(325)，它设置在探测卡和探测基底之间并与它们间隔开；以及多个细长的互连元件(333，334)，它们通过探测卡和探测基底之间的第二基底提供柔性的电气连接，从而使电气接触件与接触衬垫相接触。