发明名称 |
一种精确测量光学投影仪 |
摘要 |
一种精确测量光学投影仪,由光学投影装置和影象测量装置组成,影象测量装置有测量同心圆和长度尺寸的刻度分划板和XY滑轨移动导轨副和微分尺,微分尺分别与X滑轨移动导轨副和Y滑轨移动导轨副连接并一同移动。有益效果是光学投影仪的成象平面与2个分划板共面,成象清晰,同时可测量圆弧或长度,并有游标分度和细小尺寸刻度,尺寸测量准确,精度高,结构简单。可以独立作为投影测量装置,移动和携带方便,也可安装在超硬刀具磨床、数控机床上在机测量。 |
申请公布号 |
CN2743788Y |
申请公布日期 |
2005.11.30 |
申请号 |
CN200420009172.7 |
申请日期 |
2004.07.07 |
申请人 |
陈用威 |
发明人 |
陈用威 |
分类号 |
G01B9/08 |
主分类号 |
G01B9/08 |
代理机构 |
北京正理专利代理有限公司 |
代理人 |
毛燕生 |
主权项 |
1.一种精确测量光学投影仪,由光学投影装置和影象测量装置组成,光学投影装置有投影屏、投影屏箱、镜筒、照明光源组、大物镜组、场镜、小物镜组、主反光镜和付主反光镜组成,其特征是:影象测量装置有测量同心圆和长度尺寸的刻度分划板和十字坐标移动读数机构组成,一个分划板上刻有同心圆和游标,另一个分划板上刻有360度分度盘刻度和十字长度刻度,刻有同心圆和游标的分划板固定在投影屏箱内,刻有360度分度盘刻度和十字长度刻度的分划板安装在投影屏箱内沿投影屏箱内的轨道旋转,影象测量装置有XY十字滑轨移动导轨副和微分尺,微分尺分别与X十字滑轨移动导轨副和Y十字滑轨移动导轨副连接并一同移动。 |
地址 |
100051北京市宣武区宣武门东大街4-2-404 |