发明名称 A method to create a copper diffusion deterrent interface.
摘要
申请公布号 SG116423(A1) 申请公布日期 2005.11.28
申请号 SG20010004745 申请日期 2001.08.07
申请人 CHARTERED SEMICONDUCTOR MANUFACTURING, LTD. 发明人 SIMON CHOOI;YAKUB ALIYU;MEI SHENG ZHOU;JOHN LEONARD SUDIJONO;SUBHASH GUPTA;SUDIPTO RANENDRA ROY;PAUL HO KWOK KEUNG;YI XU
分类号 H01L21/285;H01L21/311;H01L21/314;H01L21/768;(IPC1-7):H01L21/768 主分类号 H01L21/285
代理机构 代理人
主权项
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