发明名称 | 一种高性能PIV测试用示踪粒子及其制备方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种以粉煤灰空心微珠为基材制备高性能PIV测试用示踪粒子的方法,该方法首先从粉煤灰中精选出空心微珠,然后对其表面进行金属化处理,在其表面包覆一金属层,使之具有合适的密度及高的光散射效率,最后对金属化处理后的粉煤灰空心微珠进行表面改性处理,在其表面包覆一有机物层,经干燥处理制得PIV测试用的示踪粒子。该方法具有工艺简单、稳定可靠、成本低等优点,采用该方法所制备的PIV测试用示踪粒子具有合适的密度、较好的流场跟随性和高的光散射效率,性能优异且稳定。 | ||
申请公布号 | CN1700019A | 申请公布日期 | 2005.11.23 |
申请号 | CN200510083980.7 | 申请日期 | 2005.07.18 |
申请人 | 北京航空航天大学 | 发明人 | 沈志刚;蔡楚江;麻树林;邢玉山 |
分类号 | G01P5/20 | 主分类号 | G01P5/20 |
代理机构 | 北京永创新实专利事务所 | 代理人 | 李有浩 |
主权项 | 1、一种高性能PIV测试用示踪粒子,其特征在于:由粉煤灰空心微珠、金属层和有机物层构成,所述粉煤灰空心微珠的表面通过金属化处理包覆有金属层,金属层的表面通过改性处理包覆有有机物层。 | ||
地址 | 100083北京市海淀区学院路37号 |