发明名称 一种高性能PIV测试用示踪粒子及其制备方法
摘要 本发明公开了一种以粉煤灰空心微珠为基材制备高性能PIV测试用示踪粒子的方法,该方法首先从粉煤灰中精选出空心微珠,然后对其表面进行金属化处理,在其表面包覆一金属层,使之具有合适的密度及高的光散射效率,最后对金属化处理后的粉煤灰空心微珠进行表面改性处理,在其表面包覆一有机物层,经干燥处理制得PIV测试用的示踪粒子。该方法具有工艺简单、稳定可靠、成本低等优点,采用该方法所制备的PIV测试用示踪粒子具有合适的密度、较好的流场跟随性和高的光散射效率,性能优异且稳定。
申请公布号 CN1700019A 申请公布日期 2005.11.23
申请号 CN200510083980.7 申请日期 2005.07.18
申请人 北京航空航天大学 发明人 沈志刚;蔡楚江;麻树林;邢玉山
分类号 G01P5/20 主分类号 G01P5/20
代理机构 北京永创新实专利事务所 代理人 李有浩
主权项 1、一种高性能PIV测试用示踪粒子,其特征在于:由粉煤灰空心微珠、金属层和有机物层构成,所述粉煤灰空心微珠的表面通过金属化处理包覆有金属层,金属层的表面通过改性处理包覆有有机物层。
地址 100083北京市海淀区学院路37号
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