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发明名称 METHOD AND DEVICE FOR TESTING CAPACITORS INTEGRATED ON A SEMICONDUCTOR CHIP
摘要
申请公布号 EP1118006(B1) 申请公布日期 2005.11.23
申请号 EP19990969498 申请日期 1999.09.20
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 LEINEWEBER, HUBERT;OTTERSTEDT, JAN;SMOLA, MICHAEL
分类号 G01R31/27;(IPC1-7):G01R31/26 主分类号 G01R31/27
代理机构 代理人
主权项
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