发明名称 A PATTERN OF CYCLING TEST IN NAND FLASH MEMORY DEVICE
摘要
申请公布号 KR20050110273(A) 申请公布日期 2005.11.23
申请号 KR20040035226 申请日期 2004.05.18
申请人 HYNIX SEMICONDUCTOR INC. 发明人 CHO, MIN KUCK
分类号 G11C16/34;(IPC1-7):G11C16/34 主分类号 G11C16/34
代理机构 代理人
主权项
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