发明名称 Rückwärtsleitende Halbleitervorrichtung und Herstellungsverfahren dafür
摘要 Rückwärtsleitende Halbleitervorrichtung, in der ein Isolierschicht-Bipolartransistor und eine freilaufende Diode mit einer ausgezeichneten Verzögerungscharakteristik monolithisch auf einem Substrat (1) ausgebildet sind, wobei die freilaufende Diode Folgendes enthält: eine Basisschicht (2) eines zweiten Leitungstyps zur Bildung des Isolierschicht-Bipolartransistors, eine Basisschicht (1a) eines ersten Leitungstyps zur Bildung des Isolierschicht-Bipolartransistors, eine Anodenelektrode, die eine Emitterelektrode (7) ist, die eine Emitterschicht (8) des ersten Leitungstyps und die Basisschicht (2) des zweiten Leitungstyps bedeckt, eine Kathodenelektrode, die eine Kollektorelektrode (6) ist, die die Basisschicht (1a) des ersten Leitungstyps und eine auf dem Teil der Basisschicht (1a) des ersten Leitungstyps ausgebildete Kollektorschicht (3) des zweiten Leitungstyps, wobei auf einen Teil der Basisschicht (1a) des ersten Leitungstyps ein Kurzlebensdauer-Gebiet (5) ausgebildet ist.
申请公布号 DE102005018366(A1) 申请公布日期 2005.11.17
申请号 DE200510018366 申请日期 2005.04.20
申请人 MITSUBISHI DENKI K.K., TOKIO/TOKYO 发明人 AONO, SHINJI;YAMAMOTO, AYA;TAKAHASHI, HIDEKI
分类号 H01L29/06;H01L21/322;H01L21/331;H01L21/336;H01L21/8234;H01L27/04;H01L27/06;H01L27/088;H01L29/08;H01L29/739;H01L29/76;H01L29/78;(IPC1-7):H01L29/739 主分类号 H01L29/06
代理机构 代理人
主权项
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