发明名称 Schmelzsicherungsanordnung und Herstellungsverfahren
摘要 Die Erfindung bezieht sich auf eine Schmelzsicherungsanordnung mit mehreren, auf einer Unterlage (51, 53) gebildeten Schmelzsicherungen (55), auf ein zugehöriges Herstellungsverfahren sowie auf ein Verfahren zur Herstellung eines zugehörigen Halbleiterbauelements. DOLLAR A Erfindungsgemäß werden zwischen den Schmelzsicherungen Schmelzsicherungsisolationswände (IW) gebildet, die jeweils ein unteres und ein oberes Schmelzsicherungsisolationsmuster (57W, 59W) beinhalten. DOLLAR A Verwendung z. B. für Schmelzsicherungsanordnungen in Halbleiterspeicherbauelementen.
申请公布号 DE102005019702(A1) 申请公布日期 2005.11.17
申请号 DE20051019702 申请日期 2005.04.21
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. 发明人 BANG, KWANG-KYU;LEE, KUN-GU;LYU, KYOUNG-SUK;BANG, JEONG-HO;SHIN, KYEONG-SEON;CHOI, HO-JEONG;CHOI, SEUNG-GYOO
分类号 H01L21/82;G11C17/16;H01L21/4763;H01L21/768;H01L21/8246;H01L23/525;H01L27/112;H01L29/40;(IPC1-7):H01L23/525;H01L21/824 主分类号 H01L21/82
代理机构 代理人
主权项
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