发明名称 |
Schmelzsicherungsanordnung und Herstellungsverfahren |
摘要 |
Die Erfindung bezieht sich auf eine Schmelzsicherungsanordnung mit mehreren, auf einer Unterlage (51, 53) gebildeten Schmelzsicherungen (55), auf ein zugehöriges Herstellungsverfahren sowie auf ein Verfahren zur Herstellung eines zugehörigen Halbleiterbauelements. DOLLAR A Erfindungsgemäß werden zwischen den Schmelzsicherungen Schmelzsicherungsisolationswände (IW) gebildet, die jeweils ein unteres und ein oberes Schmelzsicherungsisolationsmuster (57W, 59W) beinhalten. DOLLAR A Verwendung z. B. für Schmelzsicherungsanordnungen in Halbleiterspeicherbauelementen.
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申请公布号 |
DE102005019702(A1) |
申请公布日期 |
2005.11.17 |
申请号 |
DE20051019702 |
申请日期 |
2005.04.21 |
申请人 |
SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. |
发明人 |
BANG, KWANG-KYU;LEE, KUN-GU;LYU, KYOUNG-SUK;BANG, JEONG-HO;SHIN, KYEONG-SEON;CHOI, HO-JEONG;CHOI, SEUNG-GYOO |
分类号 |
H01L21/82;G11C17/16;H01L21/4763;H01L21/768;H01L21/8246;H01L23/525;H01L27/112;H01L29/40;(IPC1-7):H01L23/525;H01L21/824 |
主分类号 |
H01L21/82 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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