发明名称 A METHOD FOR DETECTING A FAILD COLUMN ADDRESS IN FLASH MEMORY DEVICE AND A METHOD FOR DISCRIMINATING A BLOCK TO REPAIR USING THE SAME
摘要
申请公布号 KR20050108978(A) 申请公布日期 2005.11.17
申请号 KR20040034442 申请日期 2004.05.14
申请人 HYNIX SEMICONDUCTOR INC. 发明人 KIM, DUCK JU
分类号 G11C29/00;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G11C29/00
代理机构 代理人
主权项
地址