发明名称 |
用于对一等离子处理系统进行工具匹配和故障排除的方法 |
摘要 |
本发明揭示一种测试一包括一腔室、一射频功率源以及一匹配网络的等离子处理系统的方法。从所述射频功率源向所述腔室生成一射频功率信号,但不触发所述腔室内的任何等离子。在影响所述腔室的其它参数均保持恒定的情况下,对所述腔室收到的所述射频功率信号的电压、所述射频功率信号的电流以及所述射频功率信号的相位进行测量。基于所述电压、电流和相位计算出代表所述腔室阻抗的一个数值。将所述数值与一个参考值加以对比,从而确定所述等离子处理系统内的任何缺陷。所述参考值代表一无缺陷腔室的阻抗。 |
申请公布号 |
CN1698177A |
申请公布日期 |
2005.11.16 |
申请号 |
CN03824681.3 |
申请日期 |
2003.09.26 |
申请人 |
蓝姆研究公司 |
发明人 |
阿芒·阿沃扬;赛义德·加法尔·加法利安-德黑兰尼 |
分类号 |
H01J37/32 |
主分类号 |
H01J37/32 |
代理机构 |
北京律盟知识产权代理有限责任公司 |
代理人 |
王允方 |
主权项 |
1、一种测试一等离子处理系统的方法,所述系统具有一腔室、一射频功率源和一匹配网络,所述方法包括:从所述射频功率源向所述腔室生成一射频功率信号,但不触发所述腔室内的任何等离子;在影响所述腔室的其它参数保持恒定的情况下,测量所述腔室接收到的所述射频功率信号的一电压值、所述射频功率信号的一电流值和所述射频功率信号的一相位;基于所述电压值、所述电流值和所述相位,计算出代表所述腔室阻抗的一数值;及将所述数值与一参考值加以对比,确定所述等离子处理系统内的任何缺陷,所述参考值代表一无缺陷腔室的阻抗。 |
地址 |
美国加利福尼亚州 |