发明名称 用于对一等离子处理系统进行工具匹配和故障排除的方法
摘要 本发明揭示一种测试一包括一腔室、一射频功率源以及一匹配网络的等离子处理系统的方法。从所述射频功率源向所述腔室生成一射频功率信号,但不触发所述腔室内的任何等离子。在影响所述腔室的其它参数均保持恒定的情况下,对所述腔室收到的所述射频功率信号的电压、所述射频功率信号的电流以及所述射频功率信号的相位进行测量。基于所述电压、电流和相位计算出代表所述腔室阻抗的一个数值。将所述数值与一个参考值加以对比,从而确定所述等离子处理系统内的任何缺陷。所述参考值代表一无缺陷腔室的阻抗。
申请公布号 CN1698177A 申请公布日期 2005.11.16
申请号 CN03824681.3 申请日期 2003.09.26
申请人 蓝姆研究公司 发明人 阿芒·阿沃扬;赛义德·加法尔·加法利安-德黑兰尼
分类号 H01J37/32 主分类号 H01J37/32
代理机构 北京律盟知识产权代理有限责任公司 代理人 王允方
主权项 1、一种测试一等离子处理系统的方法,所述系统具有一腔室、一射频功率源和一匹配网络,所述方法包括:从所述射频功率源向所述腔室生成一射频功率信号,但不触发所述腔室内的任何等离子;在影响所述腔室的其它参数保持恒定的情况下,测量所述腔室接收到的所述射频功率信号的一电压值、所述射频功率信号的一电流值和所述射频功率信号的一相位;基于所述电压值、所述电流值和所述相位,计算出代表所述腔室阻抗的一数值;及将所述数值与一参考值加以对比,确定所述等离子处理系统内的任何缺陷,所述参考值代表一无缺陷腔室的阻抗。
地址 美国加利福尼亚州