发明名称 氮化镓或氮化铝晶体的制造方法
摘要 本发明涉及半导体器件材料的制造方法,更准确地是氮化镓或氮化铝晶体的制造方法,包括:在衬底上外延生长氮化镓或氮化铝;在400℃-1100℃下通入硅烷,输运量从10<SUP>-7</SUP>mol/min—10<SUP>-5</SUP>mol/min,反应时间从2秒到9分钟,在氮化镓或氮化铝表面热沉积形成硅的结晶颗粒,在硅的结晶颗粒中注入碳、氮或氧的离子形成碳化硅、氮化硅、或氧化硅;继续外延生长氮化镓或氮化铝。本发明可以有效降低位错,解决衬底与外延层失配问题。
申请公布号 CN1227718C 申请公布日期 2005.11.16
申请号 CN03113769.5 申请日期 2003.02.18
申请人 华南师范大学 发明人 王浩;范广涵
分类号 H01L21/20;C30B25/02;C30B29/38 主分类号 H01L21/20
代理机构 广州粤高专利代理有限公司 代理人 何燕玲;罗勇
主权项 1、一种氮化镓或氮化铝结晶的制造方法,其特征在于包括以下步骤:(1)在衬底上外延生长氮化镓或氮化铝;(2)在400℃-1100℃下通入硅烷,输运量从10-7mol/min--10-5mol/min,反应时间从2秒到9分钟,在氮化镓或氮化铝表面热沉积形成硅的结晶颗粒,在硅的结晶颗粒中注入碳、氮或氧的离子形成碳化硅、氮化硅、或氧化硅;(3)继续外延生长氮化镓或氮化铝;所述衬底是蓝宝石、碳化硅、硅、砷化镓、氧化锌、氧化镁、LiAlO2、或LiGaO2。
地址 510630广东省广州市天河区石牌