发明名称 导体位置检查装置及导体位置检查方法
摘要 本发明之导体位置检查装置,系当检查对象为导体之情况时,可在非接触情况下,精度佳地检测出检查对象等到底在哪一位置。从供电部510对施加有交流信号的导电体520提供交流检查信号,在导电体520附近大致平行配设2片感测板570、580将各个感测板所产生的检测信号,利用减法器550进行减计,并利用除法器560将其中一感测板所产生的检测值除以减计结果,而将其中一感测板所产生检测值予以规格化,并检测出由二感测板所产生相对检测信号值比率,将感测板与导电体520间之距离所对应的检测结果当作X而获得。
申请公布号 TWI243521 申请公布日期 2005.11.11
申请号 TW093105086 申请日期 2004.02.27
申请人 OHT股份有限公司 发明人 山冈秀嗣;涂冈明;林美志夫;石冈圣悟
分类号 H01R43/00;G01D5/06 主分类号 H01R43/00
代理机构 代理人 赖经臣 台北市松山区南京东路3段346号1112室;宿希成 台北市松山区南京东路3段346号1112室
主权项 1.一种导体位置检查装置,系可检测出与施加有交 流信号之检查对象导体间之距离,其特征为具备有 : 供应机构,其系对上述检查对象导体供应交流检查 信号; 至少2片感测板,其系在上述检查对象导体附近大 致平行设置;以及 检测机构,其系检测出上述各个感测板所产生的相 对检测信号値比率,而检测出上述检查对象导体相 对于感测板之位置。 2.如申请专利范围第1项之导体位置检查装置,其中 ,上述感测板系在与上述检查对象导体一起处于静 电感应状态下,平行定位于距上述检查导体一面既 定距离处; 上述检测机构系检测出经上述感测板所产生检测 信号値微分,与经任一感测板所产生检测信号値间 之比率,以检测出上述检查对象导体相对于感测板 的位置。 3.如申请专利范围第1项之导体位置检查装置,其中 ,上述感测板系包夹着上述检查对象导体,并定位 于与位在感测板间之上述检查对象导体,形成静电 感应状态; 上述检测机构系检测出经上述感测板所产生检测 信号値加计値,与经任一感测板所产生检测信号値 间之比率,以检测出上述检查对象导体相对于感测 板的位置。 4.一种导体位置检查方法,系可检测出与施加有交 流信号检查对象导体间之距离的导体位置检查装 置之导体位置检查,其特征为: 将上述感测板在与上述检查对象导体形成静电感 应状态下,平行定位与上述检查导体其中一面距离 既定距离,并检测出上述各个感测板所产生的相对 检测信号値比率,而检测出上述检查对象导体相对 于感测板之位置。 5.如申请专利范围第4项之导体位置检查方法,其中 ,上述感测板系在与上述检查对象导体一起处于静 电感应状态下,2片大致平行定位于离开既定距离, 并检测出经上述感测板所产生检测信号値微分,与 经任一感测板所产生检测信号値间之比率,以检测 出上述检查对象导体相对于感测板之位置。 6.如申请专利范围第4项之导体位置检查方法,其中 ,上述感测板系包夹着上述检查对象导体,并定位 于与位在感测板间之上述检查对象导体,形成静电 感应状态,并检测出经上述感测板所产生检测信号 値加计値,与经任一感测板所产生检测信号値间之 比率,以检测出上述检查对象导体位置。 图式简单说明: 图1为本发明一实施形态例的导体位置检查装置构 造说明图。 图2为本发明第2实施形态例的导体位置检查装置 构造说明图。 图3为本发明一实施例的说明图。 图4为本实施例之检测结果例说明图。
地址 日本