发明名称 半导体装置及其制造方法
摘要 本发明提供一种半导体,其能够抑制由于热膨胀与收缩引起开口部分变形且能够改良生产良率与布线可靠性,且提供一种制造该半导体的方法。第一传导层与第二传导层形成于一基板上。绝缘薄膜形成于该第一与第二传导层之上表面上且具有用以曝露第一或第二传导层中任一个之复数个第一开口部分与既不曝露第一传导层也不曝露第二传导层之复数个第二开口部分。该等第二开口部分形成于第一开口部分之间。第三传导层形成于绝缘薄膜之上表面上且具有藉由第一开口部分在第一与第二传导层之间的电连接。
申请公布号 TWI243426 申请公布日期 2005.11.11
申请号 TW093110569 申请日期 2004.04.15
申请人 新力股份有限公司 发明人 井上启司
分类号 H01L21/3205;H01L23/522 主分类号 H01L21/3205
代理机构 代理人 陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项 1.一种半导体装置,其包括: 一基板; 一形成于该基板上之第一传导层; 一第二传导层,其形成于该基板上且与该第一传导 层相距一预定距离; 一绝缘薄膜,其形成于该第一传导层与该第二传导 层之上表面上,且具有用以曝露该第一传导层或该 第二传导层中任一个的复数个第一开口部分以及 既不曝露该第一传导层也不曝露该第二传导层的 一个或多个第二开口部分;以及 一第三传导层,其以填满该等第一开口部分及该等 第二开口部分的方式形成于该绝缘薄膜之一上表 面上,以用于藉由该等第一开口部分来在该第一传 导层与该第二传导层之间进行电连接; 其中,该等第二开口部分沿该第三传导层形成于一 对该等第一开口部分之间。 2.如申请专利范围第1项之半导体装置,其中该等第 二开口部分以一预定距离形成于该等第一开口部 分之间。 3.如申请专利范围第1项之半导体装置,其中该第三 传导层由一包含铜的传导材料制成。 4.一种半导体装置,其包括: 一基板; 一形成于该基板上之第一传导层; 一第二传导层,其形成于该基板上且与该第一传导 层相距一预定距离; 一绝缘薄膜,其形成于该第一传导层与该第二传导 层之上表面上,且具有用以曝露该第一传导层之一 个末端部分或该第二传导层之一个末端部分的复 数个开口部分;以及 一第三传导层,其以填满该等开口部分的方式形成 于该绝缘薄膜之一上表面上以用于在该第一传导 层与该第二传导层之间进行电连接; 其中,该第三传导层具有一预定布线长度从而即使 该第三传导层之长度由于热膨胀或收缩而沿较长 长度方向改变仍维持该连接,且具有藉由该等开口 部分在该第三传导层之两末端处在该第一传导层 与该第二传导层之间的该电连接。 5.如申请专利范围第4项之半导体装置,其中该第三 传导层由一包含铜的传导材料制成。 6.一种制造一半导体装置的方法,其包括下列步骤: 在一基板上形成一第一传导层; 在该基板上与该第一传导层相距一预定距离形成 一第二传导层; 在该第一传导层与该第二传导层之上表面上形成 一绝缘薄膜; 在该绝缘薄膜中形成用以曝露该第一传导层或该 第二传导层中任一个的复数个第一开口部分与既 不曝露该第一传导层也不曝露该第二传导层的复 数个第二开口部分;以及 在该绝缘薄膜之一上表面上以填满该等第一开口 部分与该第二开口部分的方式形成一第三传导层, 以用于在该第一传导层与该第二传导层之间藉由 该等开口部分来进行电连接; 其中,该第二开口部分沿该第三传导层形成于一对 该等第一开口部分之间。 7.一种制造一半导体装置的方法,其包括下列步骤: 在一基板上形成一第一传导层; 在该基板上与该等第一传导层相距一预定距离形 成一第二传导层; 在该等第一传导层与该等第二传导层之上表面上 形成一绝缘薄膜; 在该绝缘薄膜中形成用以曝露该第一传导层之一 个末端部分或该第二传导层之一个末端部分中任 一个的复数个开口部分;以及 在该绝缘薄膜一上表面上以填满该等开口部分且 与该第一传导层及该第二传导层进行电连接的方 式形成一第三传导层; 其中,该第三传导层具有一预定布线长度从而即使 该等第三传导层之该长度由于热膨胀或收缩而沿 较长长度方向改变仍维持该连接,且具有藉由该等 开口部分在该第三传导层之两末端处在该第一传 导层与该第二传导层之间的该电连接。 图式简单说明: 图1为根据本发明第一实施例之半导体装置之一部 分的图解横截面图; 图2A为按顺序说明制造根据本发明第一实施例之 半导体装置的主要步骤的图解横截面图,且图2B为 按顺序说明制造根据本发明第一实施例之半导体 装置的主要步骤的图解横截面图; 图3A为按顺序说明制造根据本发明第一实施例之 半导体装置的主要步骤的图解横截面图,且图3B为 按顺序说明制造根据本发明第一实施例之半导体 装置的主要步骤的图解横截面图; 图4A为按顺序说明制造根据本发明第一实施例之 半导体装置的主要步骤的图解横截面图,且图4B为 按顺序说明制造根据本发明第一实施例之半导体 装置的主要步骤的图解横截面图; 图5A为按顺序说明制造根据本发明第一实施例之 半导体装置的主要步孙的图解横截面图,且图5B为 按顺序说明制造根据本发明第一实施例之半导体 装置的主要步骤的图解横截面图; 图6A为按顺序说明制造根据本发明第一实施例之 半导体装置的主要步骤的图解横截面图,且图6B为 按顺序说明制造根据本发明第一实施例之半导体 装置的主要步骤的图解横截面图; 图7为根据本发明第二实施例之半导体装置之一部 分的图解横截面图; 图8A为按顺序说明制造根据本发明第二实施例之 半导体装置的主要步骤的图解横截面图,且图8B为 按顺序说明制造根据本发明第二实施例之半导体 装置的主要步骤的图解横截面图; 图9A为按顺序说明制造根据本发明之半导体装置 的主要步骤的图解横截面图,且图9B为按顺序说明 制造根据本发明第二实施例之半导体装置的主要 步骤的图解横截面图; 图10为相关技术中半导体装置之一部分的图解横 截面图;以及 图11为相关技术中半导体装置之一部分的图解横 截面图。
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