发明名称 Verfahren zum Schätzen der Genauigkeit azimutaler Ausrichtungen und tragbares Zielgerät
摘要 Bei einem erfindungsgemäßen Verfahren zum Schätzen der Genauigkeit azimutaler Ausrichtungen (a) eines Messgeräts (1) mit einem elektronischen Magnetkompass (2) werden mehrere Bestimmungen einer azimutalen Ausrichtung (a, a', a'', a''', a'''') vorgenommen, bei denen das Messgerät an unterschiedlichen, zueinander benachbarten Messorten (P, P', P'', P''', P'''') auf ein und denselben Messpunkt ausgerichtet ist. Aufgrund dieser bestimmten azimutalen Ausrichtungen (a, a', a'', a''', a'''') wird vom Messgerät (1) selbsttätig ein Wert der Genauigkeit mittels eines Rechenverfahrens geschätzt. Mit Vorteil liegen die benachbarten Messorte (P, P', P'', P''') übereinander oder entlang einer Geraden zum Messpunkt. Über dieses Verfahren können ortsfeste Störfelder von lakalem Maßstab detektiert und deren Auswirkungen auf die Genauigkeit abgeschätzt werden. Weitere erfindungsgemäße Verfahren sind jeweils speziell für weitere Arten von Störfeldern ausgebildet.
申请公布号 DE102005017320(A1) 申请公布日期 2005.11.10
申请号 DE200510017320 申请日期 2005.04.14
申请人 VECTRONIX AG, HEERBRUGG 发明人 GNEPF, SILVIO;GEES, JUERG
分类号 F41G1/54;F41G3/06;F41G3/08;F41G3/14;F41G11/00;G01C17/28;G01C17/38;(IPC1-7):G01C17/38 主分类号 F41G1/54
代理机构 代理人
主权项
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