发明名称 |
高分辨硬X射线相衬位相差放大装置 |
摘要 |
一种高分辨硬X射线相衬位相差放大装置,包括相干的X射线源,其特征是在该相干的X射线源的输出光路方向设置第一单晶硅片和第二单晶硅片,第一单晶硅片将入射的X射线分成两束,第二单晶硅片将两束X射线复合,其中一束X射线穿过待测样品,在两束X射线合并相交的位置设有探测器,还有一台计算机从该探测器获取X射线全息干涉图并进行位相显示和放大。本实用新型具有结构简单、分辨率高的优点,它可为早期癌症诊断提供一种有效的装置。 |
申请公布号 |
CN2739658Y |
申请公布日期 |
2005.11.09 |
申请号 |
CN200420090832.9 |
申请日期 |
2004.10.10 |
申请人 |
中国科学院上海光学精密机械研究所;上海微电子装备有限公司 |
发明人 |
陈建文;高鸿奕;朱化凤;李儒新;徐至展 |
分类号 |
G02B27/52;G01B9/02 |
主分类号 |
G02B27/52 |
代理机构 |
上海新天专利代理有限公司 |
代理人 |
张泽纯 |
主权项 |
1、一种高分辨硬X射线相衬位相差放大装置,包括相干的X射线源(1),其特征是在该相干的X射线源(1)的输出光路方向设置第一单晶硅片(2)和第二单晶硅片(3),第一单晶硅片(2)将入射的X射线分成两束,第二单晶硅片(3)将两束X射线复合,其中一束X射线穿过待测样品(4),在两束X射线合并相交的位置设置探测器(5),一台计算机(6)从该探测器(5)获取X射线全息干涉图并进行位相显示和放大。 |
地址 |
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