半导体集成电路以及测试系统

摘要

本发明的目的在于实现容易地进行利用电流逻辑信号的测试的半导体集成电路以及测试系统。本发明对具有输出电流逻辑信号的多个信号管脚的半导体集成电路以及测试系统进行了改进。半导体集成电路具有：输出电流逻辑信号的多个信号管脚；在测试时与I/V变换器电气连接的测试管脚；从多个信号管脚中选择一个信号管脚，再将上述一个信号管脚连接在测试管脚上的选择部；以及输入用于控制选择部的选择信号的选择管脚。并且，测试系统具有：上述半导体集成电路；在测试时被连接在半导体集成电路的测试管脚上、将从测试管脚输出的电流逻辑信号变换成电压逻辑信号的I/V变换器；以及被输入从I/V变换器输出的电压逻辑信号的IC测试器。

主权项

1、一种半导体集成电路，其特征在于，具有：输出电流逻辑信号的多个信号管脚；在测试时与I/V变换器电气连接的测试管脚；从上述多个信号管脚中选择一个信号管脚，再将上述一个信号管脚与上述测试管脚连接的选择部；以及被输入用于控制上述选择部的选择信号的选择管脚。